泉科瑞达(qktestetr)共有四款薄膜隔膜测厚仪,均是按照GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法》标准设计制造,具有零点稳定性好、数据重复性高等优势,专门用于测定各种薄膜、隔膜、铝箔、金属箔片等材料的厚度。
四款薄膜测厚仪分别为:一款CHY-01手持MINI台式厚度仪、CHY-02B薄膜测厚仪、CHY-02H薄膜测厚仪、CHY-03H自动进样薄膜测厚仪。
CHY-02H与CHY-03自动进样薄膜测厚仪为业内高端机型,其测试精度处于业内头部水平。
一、主要执行标准
GB/T 6672 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法、ISO 4593:2019塑料 薄膜和片材 通过机械扫描测定厚度、ASTM D374 固体电绝缘厚度测量的标准试验方法、ASTM D1777美国材料与试验协会(ASTM)制定的纺织材料厚度测试标准。
二、薄膜、薄片、箔片厚度测试原理
基于机械接触法,即通过精密仪器在恒定压力和标准接触面积下测量材料的厚度;本方法的仪器基本上能涵盖大多数软质材料的厚度测定。
三、实施精准厚度测试的意义
厚度测量早已从一个简单的物理量检测,发展成为现代精密材料工业中不可或缺的过程控制和质量管理的核心环节。
1、提高原料利用率: 薄膜和箔材的生产原料(如聚合物、金属)成本高昂。通过精准的测厚系统控制,可以实时调整生产工艺,将厚度控制在公差范围的下限附近,从而在保证性能的前提下显著节省原料。每微米的节省都可能带来巨大的经济效益。
2、保证生产稳定性: 实时厚度数据可以反馈给挤出、拉伸、压延等生产设备,实现闭环自动控制,及时纠正厚度偏差,减少废品率,提高生产效率和产品一致性。
3、实现全面质量监控: 高精度的扫描式测厚系统可以生成整个卷材的“厚度轮廓图”,全面反映产品在横向(CD)和纵向(MD)的均匀性,为工艺优化提供直观的数据支持。